基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

应用
微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业
微焦斑 XRF 光谱仪应用于金属表面处理
2.1 FT160
精确到纳米级的镀层分析
当今电子制造商的完美分析仪
精确分析
定位平台的精度和毛细管聚焦光学机构意味着您可以测量小于 50 μm 的纳米级镀层。
速度
与传统设备相比，FT160 内置的高强度毛细管光学系统和改良型 SDD 检测器有助于将仪器的分析效率翻倍
多功能性
得益于大型的样品仓门，操作员可轻松装载和移除样品，而大样品台可容纳各种形状和尺寸的组件。
耐久性
坚固的机架设计，在极具挑战性的生产或实验室环境中具有长时间使用寿命。
安全性
借助宽大的样品观察窗，操作员能够在室门保持锁定的同时查看整个分析过程。
兼容性
测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。