常见的膜厚测试方法有哪些，常容电子为您介绍：
1、金相测膜厚度
设备：金相显微镜此方法适用于测量厚度>1μm的金属膜层，可同时测量多层；
被测样品需要经垂直于待测膜层取样进行金相制样，再在金相显微镜下观察并拍照测量待测膜层厚度。
2、SEM测膜厚度
设备：为扫描电子显微镜(SEM)
此方法测试范围宽，适用于测量厚度0.01μm~1mm的金属或非金属膜层；
样品前处理与金相测厚相同，配有能谱附件(EDS)的SEM设备可以确定每一层膜层的成分。
常见的膜厚测试方法有哪些，常容电子为您介绍：
1、金相测膜厚度
设备：金相显微镜