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测量涂层或薄膜厚度的几种常见方法

发布时间:2022-04-14浏览:318
一般说来,涂层厚度的测试方法按照测试方法的基本原理类型可以分为化学法、电化学法和物理法三大类。
其中:
化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液流计时法;
电化学法包括电化学阳极溶解法(库仑法);
物理法包括直接测量法和仪器测量法(磁性法、非磁性法、X射线法和电镜法等)。

下面重点介绍几种常用的镀层厚度测试方法。
1、磁性法:
【测试原理】磁性测厚仪测量永久磁铁和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化,或者是测量穿过覆盖层与基体金属的磁通路的磁阻。
【测试范围】适合测量磁性金属上非磁性镀层。
【测试方法的优缺点】它属于非破坏法,适用范围相对较少,只能测磁性金属上非磁性镀层,比如铁上镀锌镀层。

2、金相法:
【测试原理】采用金相显微镜检测横断面,直接以标尺以辅助测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。
【测试范围】一般厚度检测需要大于1um,才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大,误差越小。
【测试方法的优缺点】它属于破坏法,其优点在于适用的镀层范围内测试结果特别准确,误差非常小,这也是天纵鉴定在争议鉴定或仲裁检验中所经常使用的方法;但它的缺点在于制备镀层测厚试样的过程耗时费力。


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